x光安檢機探測技術概述

x光安檢機的發展離不開x射線檢測技術的進步。作為相對成熟且應用廣泛檢測技術，x射線檢測技術主要包括單能射線安檢技術、雙能Ｘ射線安檢技術、雙視角Ｘ射線安檢技術、背散射安檢技術、Ｘ射線CT探測技術。

單能Ｘ射線安檢技術是獲得被檢物按密度及原子序數衰減的黑、白圖像，是更早應用于x光安檢機上的探測技術，只能用來判斷物體形狀，對探測隱藏的金屬武器比較有效。雙能射線安檢技術，是利用不止一個Ｘ射線能譜和物質相互作用，從不同的高、低能譜信號中得到有關被檢物的物質組成信息，主要是與物質的有效原子序數信息相關的Ｒ值，可以有效地區分有機物和無機物，應用非常廣泛，是x光安檢機主流的探測技術，但此技術存在圖像重疊、無法獲得物質密度的問題。雙視角射線安檢技術，利用多個視角進行不同角度的照射獲得多個二維圖像來建構掃描物體的三維圖像，克服了x光安檢機單視角下重疊物品無法區分的問題，但是存在設備復雜、對系統處理能力要求較高、價格較高等問題。

背散射安檢技術，采用飛點掃描原理，通過兩次掃描被檢物獲得2個側面的散射圖像，可以看清楚一定深度內的物質，尤其是探測距離被檢物表面較近深度范圍內的隱藏域；發射源和探測器在同側，可以使x光安檢機的布局更緊湊；康普頓散射結合飛點技術使得散射可以提供清晰度可比照片的圖像，可清楚鑒別有機物和低原子序數材料，相比透射單次檢測計量小很多。Ｘ射線CT探測技術，采用多層螺旋掃描技術，可以得到被檢物的透視圖像和被檢物斷層二維圖像以及被檢物的三維圖像，采用此類技術的x光安檢機在掃描速度和探測率方面都有更好的性能。