雙能安檢機系統的成像原理

安檢機所要檢查的物品種類繁多，材質復雜，如果僅僅靠單一的X射線來進行透射成像，得到圖像的效果并不理想，大大的提高了安檢工作人員識別危險品的難度。因此當今安檢機使用的都是雙能系統，分別代表高能和低能，通過對高能透射數據和低能透射數據的采集和融合，可以很好的區分不同種類的物品。

X射線的衰減與被測物質的密度，厚度和平均原子序數都有關系，且隨著這些因素的增大而衰減增強。因此，安檢機在過包時，如果使用單一的單能X射線，透射后得到的數據圖像是不能很好對一個高原子序數低厚度的物品與一個低原子序數高厚度的物品進行有效的區分，雙能安檢機系統一般是由一個連續能譜的X射線源，以及一套能夠分別接收高低能數據的探測器系統組成，它之所以能夠很好的區分物質的類別，主要是因為對于高能和低能，不同平均原子序數的物質的衰減程度是不一樣，低原子序數物質的線性衰減系數隨著X射線能量的增加下降的較為劇烈，高原子序數物質的線性衰減系數隨著X射線能量的增加下降的較為平緩。因此在雙能安檢機系統中，高能和低能在同一種物質中的衰減程度是不一樣的，通過對高能和低能不同衰減系數的運算和比較，就可以將不同種類，不同厚度的物質有效的區分開來。

雙能安檢機系統中的X射線穿透檢測物體后先被低能探測器吸收，低能探測器探測能譜的低能段，然后射線經過一塊銅片濾波，過濾掉低能段，高能探測器探測留下的能譜高能段，采集板將得到的高低能數據傳遞給PC機進行數據處理和融合，從而得到由雙能產生的安檢包裹圖像。